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Actualités

G-RAD, tester la résistance aux rayonnements des systèmes et composants TIC

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Nanoelec organise les 9 et 10 décembre 2020 le colloque G-RAD dédié aux installations et aux méthodologies de caractérisation et de test des composants et des systèmes électroniques face aux rayonnements. Son objectif est d’établir un état des lieux de l’offre actuelle en la matière et des besoins futurs de l’industrie. #microelectronics #reliability #radhard #neutrons… Lire la suite » ... Lire la suite »

Démonstration d’une intégration hétérogène par collage direct hybride puce-à-plaque à 2 microns de pas

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EV Group, un des partenaires du consortium Nanoelec, a développé avec succès un procédé d’intégration complet de collage collectif ‘puce-à-plaque’  avec une précision de placement inférieure à deux microns. Cette avancée technologique est une étape importante dans le déploiement de l’intégration hétérogène de semi-conducteurs 2.5D et 3D de nouvelle génération. De telles technologies sont requises… Lire la suite » ... Lire la suite »

Des puces 3D pour le HPC

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Intel Corporation annonce (COMMUNIQUE DE PRESSE | 27.10.2020) une nouvelle collaboration avec le  CEA-Leti sur les technologies d’intégration 3D de microprocesseurs pour la conception de puces électroniques, en particulier pour le secteur du calcul haute performance (HPC). La recherche sera focalisée sur la réduction de taille des puces, l’optimisation des technologies d’interconnexion entre les composants… Lire la suite » ... Lire la suite »

G-RAD : Grenoble Radiation Testing on Semiconductors & Systems

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Radiation effects in semiconductor devices is one of the major reliability concerns in today’s electronics. Continuous scaling and the ubiquitous presence of sensors and components in our day-to-day life have brought these effects to play a main role in the performance of electronic systems. Moreover, several reliability questions arise from new applications (such as self-driving… Lire la suite » ... Lire la suite »

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