
![]() | Les performances inégalées des instruments à grande échelle pour effectuer des caractérisations avancées de composants et dispositifs électroniques doivent être connues des utilisateurs industriels. Les enjeux et le contexte du programme sont à découvrir ici. |
![]() | Développer un centre de compétences pour tester la résistance des composants électroniques aux rayonnements. |
![]() | Continuer à mettre à disposition des instruments scientifiques et des méthodologies uniques pour répondre aux nouveaux défis de l’industrie électronique |
![]() | CEA, CNRS/LPSC, ESRF, ILL, Schneider Electric, Soitec, STMicroelectronics, Iroc Technologie |

Ennio Capria évoque les enjeux et le contexte du programme Carac ici.
Lien direct vers la Plateforme PAC-G