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La caractérisation de nouveaux composants électroniques est essentielle à leur conception et, au final, pour garantir leur fiabilité. La 7ème édition du colloque Carac s’est déroulée le 24 novembre 2020 en ligne sur la plateforme de webinaire de l’IRT Nanoelec. Cette édition faisait la part belle aux gains de performance des très grands équipements disponibles dans le cadre programme Nanoelec/Caractérisation, à l’ESRF (désormais la source synchrotron la plus performante du monde), à l’ILL (réacteur nucléaire dédié à la recherche grâce aux neutrons) et au CNRS/LPSC.

La complexité croissante des composants électroniques et des technologies, ainsi que la diversification des matériaux et des procédés de fabrication dans l’approche More-than-Moore nécessitent une caractérisation qui dépasse les performances des équipements conventionnels de laboratoire. Pour corréler avec précision les caractéristiques micro et nanométriques des matériaux aux propriétés macroscopiques des composants, les chercheurs ont besoin de gagner en résolution spatiale, capacité de détection et vitesse d’acquisition. C’est pourquoi ils mettent en œuvres des faisceau très spécifiques de photos et de neutrons issue des grands instruments parmi les meilleures au monde disponibles sur la presqu’ile scientifique de Grenoble.

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