Du 10 au 11 avril 2018, la Plate-forme de caractérisation avancée – Grenoble (PAC-G) a participé à la 8ème conférence internationale sur les matériaux Semiconducteurs, avec des invités de premier plan livrant plus de 30 présentations couvrant cinq secteurs. A cette occasion, le PAC-G a montré les avantages des applications des neutrons et des rayons X synchrotron pour l’industrie des semi-conducteurs composés en présentatnt le résultat de ses travaux sur “Le cristal de GaN dégrade les performances des dispositifs à semi-conducteurs – Imagerie par rayons X synchrotron”.
Le papier est disponible en suivant ce lien : https://goo.gl/VcL8Uz