Pour le projet européen DigiFed coordonné par le CEA-Leti dans le cadre de l’IRT Nanoelec, seize PME françaises et européennes ont été sélectionnées pour participer à une expérimentation dans le champ de la cybersécurité (« Generic Experiment Community »). Objectif : renforcer la sécurité de leurs applications embarquées pour l’internet des objets (IoT), autour du microprocesseur multicœur hétérogène… Lire la suite » ... Lire la suite »
Actualités
Grenoble Ecole de Management (GEM) est la seule école française parmi les 24 établissements distingués dans le monde par AACSB dans le cadre du challenge annuel « Innovations that inspire » (les innovations inspirantes). Aux côtés de l’Ecole hôtelière de Lausanne, IMD Business School et Maastricht University School of Business and Economics, GEM a été récompensée dans la catégorie… Lire la suite » ... Lire la suite »
Fin mars 2021, la France organise pour la 3ème fois une rencontre internationale pour la communauté mondiale RISC-V. Certaines équipes contribuant aux programmes Nanoelec sont de plus en plus impliquées dans des collaborations mondiales sur des standards ouverts pour l’innovation des processeurs. Dans ce cadre, Nanoelec soutient fortement l’atelier «Semaine RISC-V» et le CEA est… Lire la suite » ... Lire la suite »
Les modulateurs photoniques en silicium sont des composants clé pour les émetteurs électro-optiques au sein des centres de données. Les modulateurs capacitifs fonctionnant en régime d’accumulation permettent notamment de réduire la consommation énergétique de modulation. Dans le cadre du programme Nanoelec / Photonics Sensors, Ismael Charlet & al. (CEA-Leti & CNRS & STMIcroelectronics) ont étudié… Lire la suite » ... Lire la suite »
#Communiqué de presse @Photonics West’21 Pour faire progresser les systèmes lidar vers des marchés de masse, le CEA-Leti, dans le cadre du programme Nanoelec / Photonics Sensors, a développé des algorithmes génétiques permettant de calibrer des réseaux optiques phasés (OPA) ainsi qu’un dispositif de mesure permettant la caractérisation de ces circuits directement sur la tranche… Lire la suite » ... Lire la suite »