Un jalon important vient d’être franchi par le programme Caractérisation de l’IRT Nanoelec. Ce programme a débuté en 2013 avec la mise en place d’investissements spécifiques pour faciliter l’accès des entreprises de la microélectronique, plus largement des systémiers, aux plates-formes de caractérisation des Grands Instruments ILL et ESRF, rejoints en 2015 par le CNRS/LPSC, avec l’aide d’une part du CEA, d’autre part des industriels utilisateurs ST, Schneider, Soitec. Au-delà des investissements réalisés, la période 2014-2016 a permis de mettre en place des services innovants de caractérisation basés sur ces investissements financés pour partie par le programme d’investissement d’avenir. L’enjeu principal du programme étant depuis 2016 d’exploiter ces services au profit de l’industrie microélectronique, une partie de l’effort a été dédié à l’établissement d’un business model viable pour la plate-forme constituée, dénommée PAC-G, puis à la constitution d’un partenariat adapté pour développer l’activité. C’est après une analyse approfondie que les partenaires du programme Caractérisation de l’IRT ont conclu des discussions de longue date avec l’entreprise SERMA Technologie, leader sur son marché en caractérisation, avec l’établissement d’un partenariat gagnant/gagnant sur la durée. Cette coopération doit concrètement permettre dans les prochaines années de déployer de manière significative une activité à prix de marché, justifiant ainsi l’investissement public initial dans ce programme de l’IRT Nanoelec.
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