Programme de caractérisation par les grands instruments

Les grands instruments offrent des performances inégalées pour la caractérisation avancée des objets électroniques. Cependant, l’accès à ces instruments a été conçu pour des utilisateurs experts, ce qui est fréquemment le cas chez les chercheurs universitaires, mais moins chez les utilisateurs industriels. (c) P.Jayet

Plateforme PAC-G

Les performances inégalées des instruments à grande échelle pour effectuer des caractérisations avancées de composants et dispositifs électroniques doivent être connues des utilisateurs industriels. Les enjeux et le contexte du programme sont à découvrir ici.
Développer un centre de compétences pour tester la résistance des composants électroniques aux rayonnements.
Continuer à mettre à disposition des instruments scientifiques et des méthodologies uniques pour répondre aux nouveaux défis de l’industrie électronique
CEA, CNRS/LPSC, ESRF, ILL, Schneider Electric, Soitec, STMicroelectronics, Iroc Technologie
Le programme ‘Nanoelec/Caractérisation’ est dirigé par Ennio Capria, directeur adjoint des relations industrielle à l’ESRF (c) P.Jayet/CEA

Ennio Capria évoque les enjeux et le contexte du programme Carac ici.

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