La technologie GaN gagne du terrain et concentre les efforts d’investissement des plus gros acteurs du marché électronique RF et Puissance. Afin d’en confirmer les performances, cette technologie nécessite des moyens de caractérisation avancés. Le laboratoire de SERMA Technologies s’associe aux laboratoires de Science et Surface, de l’IRT Nanoelec et de CEA Tech pour vous présenter leurs différentes techniques vous permettant de caractériser à la fois la qualité de fabrication et le fonctionnement dynamique des composants GaN.
- Voir ou revoir le contenu du Webinaire : https://youtu.be/oUosqRY09AY
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Les intervenants :
- Mathieu MEDINA, SERMA Technologies, Directeur R&D
- Béatrice MOREAU, SERMA Technologies, Responsable Pôle de Compétences TEM
- Laurent DUPUY, Science & Surface, Responsable analyses ToF-SIMS
- Ennio CAPRIA, Directeur du programme Caractérisation de l’IRT Nanoelec
- Mathieu GAVELLE, CEA Tech, Responsable équipe Puissance