Les performances inégalées des instruments à grande échelle pour effectuer des caractérisations avancées de composants et dispositifs électroniques doivent être connues des utilisateurs industriels. Les enjeux et le contexte du programme sont à découvrir ici. | |
Développer un centre de compétences pour tester la résistance des composants électroniques aux rayonnements. | |
Continuer à mettre à disposition des instruments scientifiques et des méthodologies uniques pour répondre aux nouveaux défis de l’industrie électronique | |
CEA, CNRS/LPSC, ESRF, ILL, Schneider Electric, Soitec, STMicroelectronics, Iroc Technologie |
Ennio Capria évoque les enjeux et le contexte du programme Carac ici.
Lien direct vers la Plateforme PAC-G