![](https://irtnanoelec.fr/wp-content/uploads/2021/08/33A1318-1024x683.jpg)
![]() | Les performances inégalées des instruments à grande échelle pour effectuer des caractérisations avancées de composants et dispositifs électroniques doivent être connues des utilisateurs industriels. Les enjeux et le contexte du programme sont à découvrir ici. |
![]() | Développer un centre de compétences pour tester la résistance des composants électroniques aux rayonnements. |
![]() | Continuer à mettre à disposition des instruments scientifiques et des méthodologies uniques pour répondre aux nouveaux défis de l’industrie électronique |
![]() | CEA, CNRS/LPSC, ESRF, ILL, Schneider Electric, Soitec, STMicroelectronics, Iroc Technologie |
![](https://irtnanoelec.fr/wp-content/uploads/2021/08/E.CAPRIA-NANOELEC-©-CEA-PIERRE-JAYET065-1024x722.jpg)
Ennio Capria évoque les enjeux et le contexte du programme Carac ici.
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