Stéphane Moreau, ingénieur fiabilité au sein du programme Intégration 3D de l’IRT Nanoelec, a rejoint le comité IEEE EPS Reliability Technical Committee, comité qui joue un rôle important dans l’établissement des feuilles de route sur les critères de fiabilité des circuits.
Stéphane est déjà membre du comité ITRS sur ce même sujet.
Une bonne occasion d’apporter son expertise à partir notamment des résultats obtenus dans le cadre de l’IRT Nanoelec.