Des techniques avancées, telles que la diffraction de Bragg et le courant induit par un faisceau de rayons X (XBIC), permettent d’acquérir des informations essentielles pour prévoir les propriétés finales d’un dispositif électronique.
Sur la ligne de faisceau synchrotron BM05 de l’ESRF, la diffraction de Bragg est utilisée pour sonder la structure cristalline en mesurant l’intensité des rayons X diffractés à des angles spécifiques, ce qui permet d’obtenir des informations sur la qualité du réseau et les défauts structurels.
En complément, la technique XBIC utilise un faisceau de rayons X focalisé pour générer des porteurs de charge à l’intérieur d’un semi-conducteur, ce qui permet une cartographie spatiale de la réponse électrique et l’identification des inhomogénéités. La combinaison de ces méthodes permet une évaluation complète des propriétés structurelles et électroniques des matériaux cristallins et semi-conducteurs.
Au cours de ce webinaire, Pierre Everaere, ingénieur à l’ESRF et contributeur du programme Nanoelec/Carac, détaillera ces techniques de caractérisation, en particulier au regard des capacités de la ligne de faisceau BM05. Il donnera plusieurs exemples expérimentaux spécifiques de ces techniques nouvelles et en cours de développement, sur une large gamme de matériaux, dont le diamant, le silicium et le nitrure de gallium.
Jeudi 17 avril 2025, de 9h15 à 10h : Un wébinaire de Pierre Everaere, ingénieure à l’ESRF, animé par Ennio Capria, Directeur du programme Nanoelec/Caractérisation par les grands instruments.
Goniomètre de la ligne BM05 de l’ESRF, dédiée au programme Nanoelec/Caractérisation © O.Devise/CEA