La Plateforme de Caractérisation Avancée de l’IRT Nanoelec a organisé un événement partenaire à SEMICON Europe, le 6 Octobre 2015 à Dresde.
Un panel de 25 experts, issus des mondes industriels et académiques, a participé à l’événement. L’organisation et les activités de la Plateforme de Caractérisation de l’IRT Nanoelec ont été décrites aux participants. Trois présentations courtes ont aussi été effectuées par des partenaires : a) Le Cluster Européen de Caractérisation des Matériaux ; b) Le projet NFFA, projet H2020 récemment commencé dont l’IRT Nanoelec via le CEA-Leti et l’ESRF est partenaires ; c) Les besoins de caractérisation liés aux activités de IBM USA dans le domaine du transistor piézoélectrique.
Ce comité a également permis de favoriser des discussions avec des experts du domaine de la caractérisation pour la nanoélectronique notamment au niveau des attentes des industriels.
En conclusion, une série de discussions a été menées sur les perspectives et la vision de la caractérisation à l’aide des Grands Instruments dans le domaine de la nanoélectronique avec une emphase particulière sur les utilisateurs industriels.