Mardi 6 Octobre 2015, la Plateforme de Caractérisation Avancée Nanoelec (NACP) organise un Panel d’experts qui aura lieu à Dresde (Allemagne). Ce Panel est adressé aux experts en micro et nanoélectronique, caractérisation, substrats et processus. Il sera accueilli par l’événement SEMICON 2015.
L’objectif de ce panel sera de favoriser les discussions sur les tendances futures dans la caractérisation en micro et nanoélectronique, par rapport aux principaux besoins et attentes de l’industrie. Les services proposés par le NACP seront présentés et discutés avec les participants.
La NACP est un partenariat entre le Synchrotron Européen (ESRF), l’Institut Laue-Langevin (ILL) et le département caractérisation du Commissariat à l’Energie Atomique (PFNC). L’objectif de ce partenariat est de promouvoir les synergies entre les rayons X synchrotron, les neutrons et les techniques de nano-caractérisation traditionnelles pour répondre aux exigences de l’industrie micro et nanoélectronique.
Si vous souhaitez participer au Panel d’expert, ou si vous avez des questions, contactez Dr. Ennio Capria (capria@esrf.fr).