“La technologie MSW (Multiple-Stacked-Wafer) est appropriée pour les capteurs intelligents à très faible consommation”. Directeur adjoint du programme Nanoelec/Smart Imager de l’IRT, Sébastien Thuries (CEA-List) interviendra dans le workshop consacré aux architectures 3D hétérogènes et aux capteurs dans le cadre de la conférence DATE 2024 (Design, Automation and Test in Europe) le 26 mars 2024.
