Dixième édition du colloque Carac
Le 11 décembre 2025 à Grenoble, le programme Nanoelec/Caractérisation a organisé la dixième édition du colloque thématique sur les méthodes et les outils de caractérisation avancée et l’évaluation de la fiabilité des dispositifs, l’analyse des défaillances, la durabilité et la métrologie. Près de 80 inscrits et 65 participants – dont 60 % d’industriels- ont pris part à l’événement qui comportait des stands, des tables rondes, des exposés scientifiques et des visites d’installation.
A noter en particulier dans le programme :
Table ronde sur les installations de caractérisation avancée disponibles à Grenoble, avec :
- CEA-Leti | Narciso Gambacorti |Program Manager Nanocharacterization & Metrology
- CMTC – Grenoble INP | Laurent Maniguet | Director of the CMTC
- European Synchrotron Radiation Facility (ESRF) | Tobias SCHULLI | Head of the X-ray Imaging and Microscopy Group
- Institut Laue Langevin | Richard Davies | Industrial Applications Scientist
- Institut Neel | Eric Mossang | Research Engineer
Reliability challenges for AI chips, par Gabriele Navarro (CEA-Leti)
Synthèse par laser de films minces supraconducteurs pour circuits quantiques à base de silicium, par Paul Dumas (CEA)
Défis de la caractérisation de la fiabilité des dispositifs semi-conducteurs de puissance, par Michael Reisinger (R&D Engineer KAI Kompetenzzentrum Automobil- und Industrieelektronik GmbH)
AI for failure analysis, par Michel Ramez (Acsiel)
Visites : ESRF, ILL, CEA-Leti and Institut Neel
