7/11/2021 - Iroc Technologies : Caractériser la fiabilité des composants

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Iroc Technologies rejoint le consortium de l’IRT Nanoelec au 1er septembre 2021. « Spin-off » du laboratoire Tima (CNRS, Grenoble-INP et UGA), la société développe une gamme de services pour l’industrie de la microélectronique dans le domaine de la fiabilité. Dan Alexandrescu, PDG de Iroc, nous explique les enjeux du domaine, l’approche d’Iroc et les contours de sa collaboration dans Nanoelec.

En quoi la fiabilité est-elle un paramètre essentiel du développement de composants ?

Device Under Test in a Vacuum Chamber during Heavy Ions Testing (c) Iroc Technologies

La défense et le spatial ont toujours eu besoin de composants électroniques spécifiques pour remplir les missions dans des environnements sévères : et d’ailleurs, le test aux radiations fait partie de la certification militaire et spatiale. Mais la généralisation de composants dans des secteurs comme l’aéronautique ou l’automobile impose des contraintes de plus en plus sévères pour tenir les objectifs de sûreté de fonctionnement des équipements critiques.

Pour pallier ces vulnérabilités, Iroc met à disposition des concepteurs de circuit des logiciels d’analyse, des services et des expertises pour améliorer la qualité et la fiabilité des composants. Quelle est votre approche ?

Iroc propose à ses clients un panel de solutions permettant de caractériser et de vérifier le niveau de fiabilité des composants électroniques avant leur mise sur le marché. Les activités des tests accélérés de composants électroniques constituent 60 % de l’activité de l’entreprise. En ce qui concerne les applications terrestres et aéronautiques, afin de pouvoir obtenir des prédictions satisfaisantes du comportement du circuit électronique, nous collaborons avec des laboratoires qui offrent un spectre de neutrons similaire au spectre atmosphérique.

A Nanoelec, vous comptez travailler plus particulière sur les « évènements singuliers » ? De quoi s’agit-il ?

Complex Test Board (c) Iroc Technologies

On les appelle Single Event Effects (SEE) ; ils proviennent de l’interaction d’une particule énergétique avec un circuit microélectronique. Les particules ou les radiations ionisantes ont le pouvoir d’arracher ou d’exciter les électrons des atomes de la matière qu’elles traversent. Cette perturbation peut modifier d’une manière imprévue le fonctionnement d’un circuit électronique. Nous comptons participer à l’extension de compétence du programme Nanoelec/Caractérisation en matière d’effets des irradiations en particulier dans le cas ou les composants électroniques sont affectés par des SEE.

L’idée est d’innover en poussant la R&D dans le domaine. L’objectif est d’améliorer les moyens expérimentaux et leurs performances et de développer des méthodes analytiques pour prédire le comportement d’un circuit, soumis à un environnement neutronique, ainsi que des outils de simulation.

Vous comptez en particulier ‘qualifier’ les moyens d’irradiation de Nanoelec vis-à-vis du besoin de vos clients ?

Nous préparons la qualification d’une sélection de circuits électroniques représentatifs : des mémoires statiques (SRAM) et dynamiques (DRAM), des dispositifs reconfigurables (FPGA) à base de SRAM ou FLASH, des dispositifs analogiques, etc., pour l’environnement de fonctionnement. Les résultats obtenus seront corroborés avec l’analyse approfondie par l’intermédiaire des outils de prédiction et des bases de données nucléaires développés par la société.

Et c’est bien à partir des observations issues de ces tests que nous proposerons méthodes et outils de prédiction et de simulation. Nous le ferons en collaboration avec les autres partenaires de Nanoelec, puisque le programme Carac regroupe des acteurs clés de la chaine de valeur : les instituts opérateurs des grands instruments internationaux à Grenoble (ESRF, ILL), des laboratoires académiques (CEA, CNRS) et des industriels (Schneider Electric, Soitec, STMicroelectronics).

 

Mega Test Board and Tester (c) Iroc Technologies

Mobile Test Set-up (c) Iroc Technologies